日本三豐Mitutoyo物鏡白光干涉光學單元

簡要描述：日本三豐Mitutoyo物鏡白光干涉光學單元 WLI-Unit
利用白光干涉的非接觸式高精度精細表面紋理測量→3D形狀測量、3D粗糙度測量
高度測量精度與光學放大倍數無關
即使使用低倍率鏡頭也可進行高 Z 分辨率測量
高縱橫比測量
支持高縱橫比形狀測量，檢測不依賴于光學系統的數值孔徑
抗干擾振動的高魯棒性
小巧輕便

產品型號：WLI-Unit
廠商性質：代理商
更新時間：2025-11-12
訪問量：3658

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日本三豐Mitutoyo

千分尺測微頭內徑測量器卡尺/深度尺指示表/杠桿表測長裝置接觸傳感器非接觸傳感器硬度試驗機光學測量儀影像測量機形狀測量系統三坐標測量機

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詳細介紹

品牌	MITUTOYO/日本三豐	價格區間	面議
組件類別	光學元件	應用領域	能源,電子/電池,汽車及零部件,綜合

日本三豐Mitutoyo物鏡白光干涉光學單元 WLI-Unit

利用白光干涉可以實現非接觸式高精度精細表面紋理測量。

日本三豐Mitutoyo物鏡白光干涉光學單元

日本三豐Mitutoyo物鏡白光干涉光學單元 WLI-Unit

主要特點

利用白光干涉的非接觸式高精度精細表面紋理測量→3D形狀測量、3D粗糙度測量

高度測量精度與光學放大倍數無關即使使用低倍率鏡頭也可進行高 Z 分辨率測量

高縱橫比測量支持高縱橫比形狀測量，檢測不依賴于光學系統的數值孔徑

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抗干擾振動的高魯棒性
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小巧輕便
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規格

符號	WLI-單元-003	WLI-單元-005	WLI-單元-010
代碼號	554-001	554-002	554-003
WLI-單元傳感器頭電纜長度 (m)	3	五	十
WLI-Unit 傳感器頭兼容物鏡	WLI計劃Apo系列	WLI計劃Apo系列	WLI計劃Apo系列
WLI-Unit 傳感器頭成像放大倍率	1×	1×	1×
WLI-Unit 傳感器頭焦距 f(mm)	100	100	100
WLI-Unit 傳感頭掃描機構	內部物鏡掃描儀	內部物鏡掃描儀	內部物鏡掃描儀
WLI-單元傳感器頭尺寸（毫米）	108×68×191	108×68×191	108×68×191
WLI-Unit 傳感器頭重量 (kg)	1.7	1.7	1.7

筆記

物鏡是可選的。

推薦電腦規格
操作系統：Windows 10Pro 64bit / Windows 11Pro 64bit
CPU：Xeon 處理器 8 Core（2.0GHz 或更高）
內存：8GB 或更高
存儲空間：25GB 或更高
光驅：DVD-ROM 驅動器（用于軟件安裝）
通信端口：RJ -45×1端口（EtherNET）
擴展槽：PCI Express 3.0×8或更高